刘永刚 杨见 邹亮

【摘要】    基于零中频架构的优势以及随着科学技术的不断发展带来的新工艺的突破，零中频方案的应用也越来越成熟，但是，其存在的一些问题并没有随着技术的发展而消除，本文针对零中频架构存在的直流偏置问题提出一种处理方法，并通过实际的工程应用进行验证。

【关键词】    零中频技术    直流偏置    二次雷达

引言：

零中频（ZIF）架构自无线电初期即已出现，该架构具有最低的成本、最低的功耗和最小的尺寸等优势。随着科学技术的发展，通过工艺、设计、分区和算法的组合可以解决零中频架构早期存在的诸多普遍性缺陷，带来的新产品取得了性能上的突破，能够实现传统技术望尘莫及的新型应用，不可避免的，零中频架构也存在一些问题，包括闪烁噪声（1/f）、直流偏置（DC-offset）、I/Q不平衡、偶次谐波等。

零中频接收机转换射频信号到零中频，大量的偏置电压会恶化信号，更严重的是，直流偏置信号会使混频后级饱和、信号失真等。

一、本振泄露

本振泄漏在I或Q信号路径中表现为增大的直流失调。其原因是LO直接耦合至射频信号路径中，并被以相干方式下变频至输出。结果产生混频器积，表现为直流失调，加入信号链里存在的任何残余直流失调中，如图1所示。

本振口、混频器口与LNA之间的隔离度不好，本振信号、环境电磁干扰信号等可以直接通过LNA和混频器，这种现象即本振泄露，是由于芯片内部的电容及基底耦合的，耦合的本振信号、干扰信号经过LNA到达混频器，和输入的本振信号混频（自混频），这样会在低通滤波器之后产生直流成分;