易 婷 魏伟安 金 科

热性惊厥（fibrile seizure，FS）是小儿惊厥常见病因，通常发生于6 个月至6 岁儿童［1］。热性惊厥附加症（fibrile seizure plus，FS+）指FS 发作持续至6岁以后或者6 岁以后首次起病；亦可表现为首次发作在6个月至3岁，伴或不伴无热性惊厥［2-3］。多数患者预后良好，少数FS+患儿可进展为海马硬化或颞叶癫痫。该疾病发病机制尚不明确，主要与遗传易感性、脑发育未成熟、髓鞘形成不完善及发热等多方面因素相关［1］。儿童期脑发育具有很强的易损、易塑性，FS+患者是否存在异于常人的解剖学结构，其智力、行为、学习能力及社会适应能力是否会受到影响尚不明确［4-5］。结构像MRI 是皮质定量可重复测量的稳定性技术， 基于体素形态学测量（voxel-based morphology， VBM） 及基于表面形态学测量（surface-based morphology，SBM）方法能够进行全脑的自动、全面、客观分析，同时获得灰质体积和厚度［6］、脑沟深度、沟回指数［7］及分形维度［8］等多种量化参数，在儿童脑发育、FS、孤独症等疾病中得到诸多应用。本研究应用VBM 及SBM 技术分析FS+儿童灰质结构特点，为理解FS+儿童脑发育变化提供客观的解剖学依据。

方 法

1. 临床资料

回顾性分析2019年5月—2020年2月间在湖南省儿童医院就诊的FS+患者50 例。纳入标准：①符合FS+诊断标准［1-2］；②年龄6～10 岁。排除标准：①颅脑损伤史；②神经系统器质性疾病史；③服用已知对中枢神经系统产生作用药物者；④已知精神障碍性疾病史；⑤MRI扫描禁忌证；⑥MRI图像差不能进行分析者。最后FS+组入组20 例，年龄6～10 岁（男性14名，平均年龄7.3 岁）。选取年龄、性别与之匹配的19 名无惊厥史正常儿童（男性14 名，平均年龄7.1岁）作为对照组。……