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三氧化钨超薄纳米片SERS活性基底的制备与性能研究

2020-05-21孙宗杰林东岳何遥孙宇峰杨良保

光散射学报 2020年4期
关键词:检测

孙宗杰,林东岳,何遥,孙宇峰,杨良保

(1.安徽工程大学,安徽芜湖 241000;2.中国科学院合肥物质科学研究院医学物理与技术中心,安徽合肥 230031)

1 引言

随着纳米材料制备和激光技术的发展,高灵敏的分析检测技术得以迅速进步。表面增强拉曼散射(Surface-enhanced Raman scattering,SERS)技术作为一种灵敏性极高,提供分子的指纹光谱以获得被测物质的化学和结构信息的检测技术,已经被广泛应用于环境监测、材料化学、生物科学等领域,具有非常广阔的应用前景。目前SERS基底使用较广泛的是贵金属基底(如金、银),但贵金属基底的成本与稳定性有待改善[1],这制约了SERS技术在实际场景中的应用。近年来,随着各种半导体材料在SERS基底领域的应用,CuO、ZnO、TiO2、MoO2等由于其优异的稳定性与低廉的成本引起了众多科研工作者的兴趣[2-3]。

在半导体材料中,钨基氧化物凭借其独特的稳定缺陷结构与光电特性,受到广泛关注[4]。

氧化钨的研究可以追溯到17世纪,科学家们逐步发现氧化钨具有良好的电致变色特性[5-6]、光致变色特性[7-8]、光催化特性[9-11]、光伏特性[12-13]等,同时也在过渡金属氧化物的研究中得到了关注。氧化钨纳米材料作为一种块状半导体,以其独特而丰富的性质成为未来发展的重要候选材料。它们优异的显色性能、广泛的成分组合和从非晶态到不同晶态的多种晶体结构使它们在光学上具有特别的吸引力[14]。这种独特材料的潜力是巨大的,其复杂性和广阔的应用前景,值得我们更深入的研究。与许多传统的过渡金属氧化物相比,氧化钨材料所具有的富含氧缺陷的亚化学计量成分决定了结构中的光子与电子之间的相互作用,也从理论上表明其具有SERS增强效果[15]。……

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