刘智平

(中铁上海设计院集团有限公司,上海 200070)

1 概述

自中国铁路总公司印发《自动闭塞区间继电式逻辑检查暂行技术条件》(铁总运[2015]121号文)[1]以来，全路范围开展了普速铁路自动闭塞区间增加继电式逻辑检查功能的相关工作，总的来说效果良好。在应用和现场试验的过程中，电务部门发现：列车出站发车，当车列压入站内最末一个区段(IBG)，此时如IBG失去分路会造成联锁进路错误解锁的安全隐患问题。

2 场景问题分析

如图1所示场景，当列车由站内股道出站发车，列车压入站内最后一个区段(IBG)时，如因钢轨分路不良引起IBG突然失去分路[2]，且时间足够使IBGGJ吸起。区间逻辑占用检查电路[3]如图2所示。

图1 车站及区间示意

图2 区间逻辑占用检查电路示意

继电器动作时序：IBGGJ↑→X1LQG JLJ↓→X1LQGGJ↓→IBG解锁。IBGGJ励磁吸起，此时SNCZJ仍处于落下状态，而X1LQG逻辑检查电路中的JLJ随之落下，进而造成X1LQGJ错误落下，站内联锁系统采集到X1LQGJ落下状态后，结合IBG吸起状态，逻辑占用三点检查成立[4]， IBG正常解锁。实际上此时列车可能并未驶离IBG区段，也未占用X1LQG区段，X1LQGJ继电器的落下为区间逻辑检查电路判断的逻辑占用状态，并不是列车实际占用状态[5]，就存在站内联锁对列车进路错误解锁的重大安全隐患[6]。

3 现有解决方案

3.1 方案介绍

针对上述问题，已有设计单位提出一套解决方案，如图3所示。

图3 联锁IBGGJ采集电路中加入CZJ的接点条件

此设计意图是：当列车发车时，列车压入站内最后一个区段(IBG)时，如分路不良引起IBGGJ吸起，造成X1LQG逻辑检查……