於建军 胡高军 吴宇强 王宁兰

脑弥漫性轴索损伤(DAI)是当头颅受斜或侧向撞击时，可突然发生轴向旋转，其从外周到中心不同层次旋转脑组织的角加速度各异，故位于不同层次的神经纤维和小血管会发生断裂和分离，此即DAI。DAI临床表现缺乏特征性，影像学检查是临床诊断DAI的主要依据，MR不能直接显示神经轴索的损伤，但DAI引起的脑内小出血灶、间质水肿等，可以通过间接征象来诊断。本研究对CT、常规MR及SWI序列进行

对照研究，探讨SWI序列对DAI的诊断价值。

1 资料与方法

1.1 一般资料 收集笔者所在医院2010年11月～2011年9月43例临床可疑DAI患者，均为首次脑外伤，无脑梗死、脑肿瘤、炎症等病史。男28例，女15例;年龄18～56岁，平均33岁;车祸伤26例，坠落伤12例，其他5例。临床主要表现为原发性意识障碍，瞳孔改变，呼吸频率和节律改变，肢体肌力下降或去大脑强直等。

1.2 检查方法 采用Philips Achieva 1.5T超导型MR扫描仪，16通道NV线圈，常规行TSE序列T2WI(TR 3635 ms，TE 100 ms)，T1WI(TR 488 ms，TE 15 ms)，FLAIR 序列(TR 6000 ms，TE 89 ms，TI 2000 ms)，DWI(TR 2344 ms，TE 72 ms，b值为1000);SWI使用FFE序列，3D扫描，参数为:TR shortest，TE 15 ms，翻转角15°，层厚1 mm，层距 0 mm，矩阵256×256，总扫描时间约5 min，采集所得图像在工作站进行最小密度投影(MinIP)，重建成层厚为10 mm，层距为－5 mm的SWI图像。所有图像均由笔者所在科有丰富经验的两位医生进行分析，将SWI序列与常规TSE、FLAIR、DWI序列所显示的DAI病灶进行比较。

2 结果

SWI显示DAI病灶多见于双侧大脑半球皮髓质交界处，以两侧额、顶、枕叶为多，其次位于胼胝体和基底节区，脑干及小脑少见，病灶表现为点状、斑片状、条状、类圆形或团块状低信号影，信号多均匀，边界清晰，病灶直径多小于10 mm，单个病例中脑内病灶数最多为180个，最少为4个。……