小儿热性惊厥的脑电图分析

2011-08-15戴瑾

实用心脑肺血管病杂志 2011年7期

戴瑾

热性惊厥 (FC)在小儿时期很常见，反复发作将对脑功能产生一定影响，部分患儿的脑电图 (EEG)出现不同程度的异常改变，现将我院2007年1月—2010年1月诊治的50例FC患儿的EEG进行分析，探讨FC对脑功能的影响及FC时EEG与小儿发病年龄、程度、复发次数的关系。

1 资料与方法

1.1 一般资料 50例患儿初次发作时间为1个月～6岁，在上呼吸道感染或其他感染疾病的初期，体温38℃以上时突然出现的惊厥，不包含中枢神经系统感染及可致惊厥的器质性或代谢性异常者。单纯FC发作时体温一般超过38℃，发作形式为强直－阵挛，阵挛或强直发作，少数为失张力发作，持续时间不超过15min，发作后无异常神经体征，1次热程中仅有1次发作，而复杂FC发病年龄小于6个月或6岁以上仍有发作，惊厥时体温＜38℃，有局部性发作表现，1次热程中有1次以上惊厥复发或惊厥时间超过15min。

1.2 脑电图描记方法采用上海诺诚16导NATION128WH电生理记录仪使用银盘状电极，按国际标准10～20系统安放电极，进行参考导联，双极导联描记，描记时间为20～30min，3岁以上合作儿童采用清醒、安静、闭目状态行EEG检查，并做睁闭眼试验及深呼吸3min诱发试验，不合作儿童及3岁以下婴幼儿采用剥夺睡眠或口服水合氯醛诱导睡眠，脑电图诊电标准参照刘晓燕诊断标准［1］。结果分为正常脑电图和异常脑电图，其中异常脑电图分为非特异性异常 (背景活动出现弥漫性慢波)发作性异常 (出现棘波、尖波、棘慢综合波等病理性病)。