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0.18um工艺的低功耗带隙基准源设计

2021-11-03沈阳化工大学石运栋

电子世界 2021年18期

沈阳化工大学 王 健 石运栋

目前,随着便携式产品对低压低功耗要求的不断苛刻,如何研究集成电备,如笔记本电脑、手机、PDA、移动电源等等,也对带隙基准电路提出了相应新的需求。本文带隙基准电路包括带隙核心电路,电流偏置电路以及运算放大器,其电流偏置电路所有的MOS管工作状态都处在亚阈值区域。通过设计纳安级偏置电流电路,使其降低所产生的功耗,而且使得整体电路能在1.2V的低电压下正常工作。此外,采用了米勒补偿电路有效改善了电路的温漂系数。本文电路采用SMIC 0.18μm工艺模型,通过仿真结果显示,在1.2V的工作电源电压、环境温度-20~100℃下,实现了带隙基准电压为600mV,温漂系数仅为1.237ppm/°C,在低频100Hz时电源抑制比达到-88.5dB,其产生的功耗仅为67.72uW。

1 带隙基准电路工作原理

在传统的带隙基准电路设计中,其一般输出电压Vref会稳定在1.2V上下浮动,而其所用电路产生的Vref是通过两个正负电压相抵消来具体实现的。在保证MOS管正常工作的状态下,将所产生的正负温度系数进行合适的比例相加,就得到了一个与温度不相关的输出电压。

1.1 CTAT电压的产生

通过对双极性晶体管的研究,得到:

VBE对T取导数,最后可得:

1.2 PTAT电压的产生

由两个不同发射区面积组成双极晶体单元产生的PTAT电压电路,两晶体管参数相同,产生与温度无关的电压差。

这样就得到了一个正的温度系数电压。由上式可以得出,所产生的正温度系数与单个双级管没有关系,与这两个双级管产生的压差有关系。……

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