谢顺红

（广州市白云区妇幼保健院，广东 广州 510000）

0 引言

惊厥为临床上十分常见的儿科急症，高热则是导致小儿惊厥发生的重要因素。相关调查研究发现，在5岁以下儿童中，高热惊厥的发生率达到了3%[1]。高热惊厥患儿一般临床症状有意识障碍、口吐白沫、肌群不自主收缩等，如果没有采取及时有效地治疗，可能会导致窒息、脑损伤等的发生，对患儿生命健康安全造成威胁[2]。高热惊厥有着复杂的发病机制，可能是因为小儿的神经系统还没有发育完全，外界轻微的刺激即有可能会导致脑部神经元异常放电。相关研究结果显示，通过脑电图检查可以观察高热惊厥患儿病情，判断其预后情况[3]。因此本研究通过回顾性分析200例高热惊厥患儿的临床资料及脑电图检查结果，探讨高热惊厥患儿脑电图临床意义。

1 资料与方法

1.1 一般资料。回顾性分析广州市白云区妇幼保健院在2018年1月至2020年1月收治的200例高热惊厥患儿，患儿年龄6个月至8岁，平均(3.39±0.36)岁。患儿的临床资料及脑电图结果；所有患儿均为因呼吸道、消化道感染性疾病引起的高热所发生的惊厥，且临床资料完备；排除因其它原因引起的惊厥，存在中枢神经系统感染，既往有癫痫病史以及低钙血症等。

1.2 方法。所有患儿均在高热惊厥发生后的1周内进行脑电图检查，检查设备为KTCMS-M397389型脑电图机（北京中西远大科技有限公司生产），根据具体情况选择使用单、双极导联，将记录盒中的旧信息清空，清除完后备用。……