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弹载电子设备HALT在延寿中的应用研究

2021-08-23韩建立张鑫张崇会赵建印

航空兵器 2021年3期

韩建立 张鑫 张崇会 赵建印

摘 要: 为选择更为合适的加速寿命试验应力,本文结合某型导弹任务环境特点和高加速寿命试验(HALT)要求,提出一种针对弹载电子设备的高加速寿命试验方法。以某型导弹弹载电子设备典型部件为例,在对其组成结构分析的基础上,确定了部件主要失效模式,分析了影响部件性能的敏感应力。针对延寿工作需要,设计该部件的HALT方案,通过试验获得该部件在不同敏感应力下的工作极限值,为延寿工作的开展提供指导。

关键词:弹载电子设备;HALT;加速寿命试验;延寿

中图分类号:TJ760   文献标识码: A    文章编号:1673-5048(2021)03-0071-06

0 引  言

目前,针对弹载电子设备的加速寿命试验主要以温度应力试验为主,应力水平主要通过工程经验或分析试验件的高温特性来确定[1-2]。以往的延寿工作实践表明,针对弹载电子设备的加速寿命试验,温度应力上限一般设定在75~120 ℃,试验时间长达几个月[3-5]。研究发现,在保持产品失效模式与失效机理不变的前提下,合理提高温度应力水平会使试验效率成倍提高,从而极大缩短试验时间,降低试验成本[6-9]。

随着器件和材料制造工艺水平的提高,导弹可靠性越来越高,以往的加速寿命试验过于保守,找到更有效率的应力水平成为目前延寿领域研究的重点。本文通过产品研制阶段采用的高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test,HALT)获取产品温度应力下工作极限,指导加速寿命试验的开展。

在HALT技术和理论应用方面,国内外学者做了大量的研究。……

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