高可靠元器件特征结构识别与表征技术
2021-03-26龚欣李婷孙佳佳陈旭光倪晓亮
电子元器件与信息技术 2021年11期
龚欣,李婷,孙佳佳,陈旭光,倪晓亮
(中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心,北京 100094)
0 引言
目前国产元器件研制水平参差不齐,一方面对以往仿制元器件的基本设计理念等还缺乏深入思考,设计受限于当前国内基础材料、原材料等技术和产业水平,另一方面对于全新的、国外没有对应产品的自主研发新型元器件,没有现成的设计参照,存在设计水平低、试错代价大、迭代周期长等问题[1-3],同时可靠性评价也缺乏权威性,而如果将目前已有的高可靠元器件的特征结构进行识别并提取出来,建立高可靠元器件特征结构大数据平台,再根据结构相似性原理派生出新元器件的设计方案,就可以很好地解决这个问题,同时能够充分利用已有知识和经验,使元器件设计工作变得轻松。
基于上述需求和思想,本文对高可靠元器件开展了特征结构识别与表征技术的研究,找出了适合高可靠性元器件的特征结构成组分类方法,并从结构形似性角度出发,建立了作为结构设计派生依据的高可靠元器件特征结构大数据平台,只需输入新器件的类别和应用领域或其他特殊需求,系统就会自动进行派生出相应的设计方案,对设计方案进行迭代和优化,便可以得到最终的设计方案。
1 高可靠元器件特征结构提取技术
对现有高可靠元器件特征结构进行提取是整个工作的基础,特征结构要素是什么,如何提取成为问题的关键,本文首先从功能实现角度对高可靠元器件进行结构单元分解,再在每个结构单元的基础上识别和提取代表其高可靠特性的特征结构。……
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