基于非加速状态的电子设备可靠性试验研究
2021-03-08张培跃张涛程德鹏
科学与财富 2021年31期
张培跃 张涛 程德鹏
摘 要:本文主要研究基于非加速状态的电子设备可靠性试验,首先对电子设备可靠性概念及影响因素进行介绍,了解影响电子设备可靠性的主要因素,重点分析军用电子设备可靠性试验的特点及试验方法的选择,在此基础上分析非加速状态的电子设备可靠性试验,希望通过本文的研究能够更加全面的认识电子设备的可靠性试验。
关键词:非加速状态;电子设备;可靠性试验
1引言
电子设备在生产生活各个领域已经得到广泛的使用,电子设备的可靠性也对产品的质量性能产生直接深刻的影响。可靠性试验能够真实了解电子产品的性能缺陷,以便于对其改进,提升品质,尤其是在军用电子设备中进行可靠性试验是十分重要的。因此在现阶段加强对于非加速状态的电子设备可靠性试验研究具有重要的现实意义。
2电子设备可靠性概念及影响因素
2.1 电子设备可靠性概念
电子设备在运行过程中可能会遇到各种不同的运行状况,而可靠性就是指电子设备在在特定条件下维持无故障状态持续执行设备相关指定功能的能力。高可靠性是电子设备高质量的重要标志。通常可以使用失效率、可靠度等指标评价电子设备的可靠性。电子设备的可靠性由基础电子元器件和产品设计可靠性两部分组成,其中电子元器件是基础核心部件,元器件的可靠性保证产品整体可靠性的基础,而可靠合理的设计能够实现各种电子元器件的可靠结合,从而直接影响到产品可靠性高低。……
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