刘建清

（株洲宏明日望电子科技股份有限公司，湖南 株洲 412007）

0 引言

大数据时代的来临，使人们对信息的获取需求大幅增长，各种电子产品也相继进入百姓生活的方方面面，极大程度的便捷了人们的生活。与此同时，人们对电子产品的使用性能及质量也提出了更高的要求，为了使电子产品能够可靠使用，就需要采用失效分析手段来对电子产品出现失效的原因进行深入分析，了解失效性质，并利用各种具有针对性的预防方法，以此防止失效问题的发生，并进一步改善电子元器件的可靠性与使用性能。如何更好的开展电子元器件失效技术分析已经成为电子行业在发展过程中迫切需要解决的重要课题，各种信息化工具的出现与应用，也为电子元器件失效分析提供了可靠的技术支持，同时也进一步促进了电子元器件技术的发展。为此，以下便探讨电子元器件失效分析需要遵循的相关原则，了解其具体的操作流程，在此基础上分析其主要技术手段，阐述了电子元器件失效技术的发展现状。

1 电子元器件失效分析应遵循的原则及操作流程

1.1 原则

在对电子元器件失效原因进行分析时，必须要遵循相应的原则来进行操作，只有这样才能保证电子元器件的完好性。通常而言，在对电子元器件进行失效分析过程中，主要是采取以非破坏性为目的的检查手段。如果采用常规的非破坏性检查手段来对电子元器件进行失效分析时，无法判断其失效原因，便要采取进一步的操作，以此更加深入的探寻失效原因。……