透射电子显微镜实验教学中常见非正常现象快速判断与矫正方法研究
2019-08-03刘利娜陶佳杭义萍
中国教育技术装备 2019年2期
关键词:实验教学
刘利娜 陶佳 杭义萍



摘 要 透射电子显微镜在高校的需求率不断增加,因其操作复杂,使用过程中学生对一些非正常现象很难快速正确应对。探讨比如灯丝像簡易调节方法、电荷耦合器件图像传感器背景矫正判断和样品高度快速调焦的方法,对提高学生学习效率、减少操作失误、拍出高质量图片很有帮助。同时减少学生眼睛的劳损,有益身心健康。
关键词 透射电子显微镜;灯丝像;CCD;实验教学;透射电镜及应用
中图分类号:G642.423 文献标识码:B
文章编号:1671-489X(2019)02-0119-03
1 引言
随着科学的发展,人们对微观世界的研究不断深入,透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)的应用也越来越广泛[1-5]。科研中对TEM的需求量也大幅增加[6-8],培训学生熟练掌握TEM的操作,让学生自行测试,势在必行。华南理工大学化学与化工学院针对化学类专业硕士研究生开设了实验课“透射电镜及应用”,学生在实践操作环节需要自己动手进行下列操作:
1)样品的制备,包括铜网的选择、粉末样品的分散和制备、块体样品的切割、打磨、凹坑和减薄等;
2)针对学科特点,选择既可以拍摄低倍形貌,也可以拍摄高分辨晶格相的样品,此时要寻找合适的样品区域,拍摄清晰的低倍形貌照片以及高分辨电子显微图像;
3)针对图像数据的处理,指导学生采用CCD软件测量样品的尺寸、晶面间距等,学会样品缺陷结构的观察以及电子衍射的简单标定等,并利用晶体的理论知识与实际数据结果相联系,进行分析和理解。
在实验教学过程中发现,由于TEM操作步骤烦琐,尤其是在出现一些非正常现象时,学生很难判断问题所在,更无法快速做出相应的矫正措施。……
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