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热电离质谱法测定铀同位素过程中铼灯丝氧化 对目标铀离子形成的影响

2018-10-11汤书婷王晓明朱健铭崔建勇

质谱学报 2018年5期

汤书婷,闫 峻,王晓明,曾 远,朱健铭,崔建勇

(核工业北京地质研究院,北京 100029 )

热电离质谱法(thermal ionization mass spectrometry, TIMS)是一种单元素测定技术,主要用于同位素分析。对于第一电离势较高的元素,有时需要通过分子离子测定其同位素组成,如通过Cs2BO2+或BO2-测定硼同位素组成[1-2]。在元素同位素组成测定过程中,由于不同的点样方式、灯丝结构以及灯丝升温方式等,可以观察到不同强度的原子离子或分子离子峰,这会对测量结果造成不同程度的影响。

铀同位素比值通常采用双带或三带点样技术,以铀离子的形式测定。为提高铀的电离效率并降低样品用量,Chen等[3]采用单带技术,以石墨作为发射剂,显著提高了U+的产额。李已才等[4]采用碳纳米管作为发射剂也得到了相似的结果。Yokoyama等[5]采用单带技术,以硅胶作为发射剂测定UO2+离子,电离效率比常规石墨点样技术提高了4倍。

为研究不同形态铀离子产生的条件, Richter等[6]通过在样品带上加入硅胶提供氧环境,发现UO+/U+、UO2+/U+强度比值随着灯丝温度的升高而升高。Alamelu等[7]采用钽灯丝作为样品带,研究了不同的蒸发温度和电离温度下产生U+和UO+的比例,发现在较低的电离温度和较高的蒸发温度下可以得到较强的UO+信号,这可能是因为钽带比铼带更易氧化,导致UO+信号更强。以上研究过程中,氧的来源除了额外供氧外,还可能是铼带表面的氧化形成氧化铼(钽)晶体[8]。灯丝去气不仅可以去除灯丝表面的污染,还可去除表面的氧化物,在测量过程中,电离带温度一般为1 800~1 900 ℃,以达到二次去气的作用。……

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