宋霄森

摘要：当今时代，能量、信息和材料是现代社会发展的三大支柱。成分、结构、制备工艺和性能是材料科学的四个基本元素。成分和结构从根本上决定了材料的性能。对材料的成分和结构进行精确表征是材料研究的基本要求，也是实现性能控制的前提。材料分析技术是关于材料成份、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析与测试技术及其有关理论基础的科学。X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

关键词：x射线 晶体 衍射分析

一、x射线分析发展简史

材料分析技术的一般原理是通过采用入射电磁波或物质波（如电子束或离子束）与样品相互作用（及认为引入微扰），产生携带样品信息的各种出射电磁波或物质波，对这些出射的信号进行分析检测，根据被测信号与材料分析成分、结构、价键信息的特征关系达到材料分析的目的。每种分析技术均包括信号发生、信号检测、信号处理和信号读出等几个步骤。相应的分析仪器则由信号发生器、检测器、信号处理器与读出装置几部分组成。

1895年德国学者伦琴，作阴极射线衍射实验时，发现了一种不可见的射线，由于当时不知它性能和本质，故称x射线，也称伦琴射线。1909年，巴克拉发现，x射线与产生x射线的物质（靶）的原子序数（z）有关，由此发现了标识x射线，并认为此x射线是原子内层电子跃迁产生。1908年-1909年，德国物理学家，将x射线照金属（相当于光栅），产生了干涉条纹。……