隋文波,张 昕，杨德政

(1.兰州大学 磁学与磁性材料教育部重点实验室，甘肃 兰州 730000；2.西安市第一中学，陕西 西安 710082)

振动样品磁强计最早由1959年美国费尼尔(S.Foner)设计制成，是检测物质内禀磁特性的标准通用设备，是表征材料静态此特性最常用的设备。当前的信息化时代，各类电子元器件、吸波材料、微观器件都与磁性材料有着密不可分的联系[1-5]，因此如何表征好材料的磁性已成为科研工作中必不可少的环节。

磁滞回线作为振动样品磁强计最常见的测试曲线，可以有效地获得材料饱和磁化强度、剩余磁化强度以及表征材料软磁和硬磁最重要的磁参数——矫顽力[6-12]。本文围绕通过粉末样品、软磁薄膜样品、硬磁薄膜样品三个方面对不同磁性材料进行了详尽的介绍。

1 磁滞回线

使用美国MicroSence公司生产的EV9型振动样品磁强计，如图1所示。

如图2所示，给出的是磁滞回线的示意图，磁滞回线描述的是磁场中样品的磁化强度M随外磁场H变化的封闭曲线。通过图可以得到样品的以下重要信息：1)在a点开始先施加使样品能够饱和的外磁场Hm，此时对应的纵轴坐标为饱和磁化强度Mm；2)逐渐降低外磁场到0曲线到达b点，对应的为样品的剩余磁化强度Mr；3)继续反向增大外磁场，当外磁场达到c点，此时磁化强度为0，外磁场大小为-Hc，即样品的矫顽力；4)继续反向增大外磁场到d点，此时反向饱和分别对应饱和场-Hm和饱和磁化强度-Mm；5)再逐渐减小外磁场到0曲线到e点，对应的为样品的剩余磁化强度-Mr；……