□张莉冬

(太原理工大学 煤化工研究所，山西 太原 030024)



表面分析方法在微量物证鉴定中的应用

□张莉冬

(太原理工大学 煤化工研究所，山西 太原 030024)

将表面分析技术引入微量物证鉴定领域可以快速有效地得到检材大量的化学信息，通过分析所得信息可得到被测物的表面的化学成分信息、元素所处状态信息，并可通过半定量分析法得到被测物表面元素的相对含量信息。

表面分析；微量物证；X射线光电子能谱

表面分析技术在材料学、摩擦学、化学等诸多科研领域均有广泛应用,然而在法庭科学领域并未得到广泛应用。本文从微量物证分析的角度，运用表面分析技术中应用最早、最广泛、最成功的X射线光电子能谱(XPS)分析法进行分析研究。

一、常用表面分析仪器的技术比较

X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)是目前使用较普遍的表面分析方法[1]。XPS的优势在于可以取得大量的化学信息，同时被测物表面的破坏最小、半定量分析速度快；AES的优势在与空间辨识能力强，微区分析效果好，能对表面元素的分布情况进行成像；SIMS的最大优势是对元素的检测灵敏度很高，可以对XPS、AES无法分析的H、He元素及同位素进行分析，还可进行有机分析、微区的微量分析。

(一)XPS优点：可检测元素周期表中除H、He以外的所有元素。灵敏度为亚单层；在不同的材料和实验参数的调节下探测深度范围可达1～20个原子层；可进行元素定量分析，得到优异的化学信息。X射线束损伤通常微不足道，故分析是非结构破坏的是一种良好的无损检验方法并且可以得到详细的电子结构及某些几何信息。……