解同同，李天阳（.江南大学物联网工程学院，江苏无锡4；.中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡4035）



一种嵌入式NOR Flash控制器IP的设计

解同同1，李天阳2
（1.江南大学物联网工程学院，江苏无锡214122；2.中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035）

当前，嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域，便于系统进行软件在线更新和系统维护。嵌入式NOR Flash可以"嵌入"在芯片中作为高速缓存，对于提升芯片整体性能作用明显。传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口，在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断。设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP。控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分，分别对两个模块进行分析设计。经过仿真验证，控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能，达到了设计目标。

NOR Flash；IP核；存储器控制器；可测试性

1　引言

在嵌入式系统中，NOR Flash通常用于存放直接执行的代码。NOR Flash具有高可靠性、随机读取速度快和片内执行等优势，因而在嵌入式系统中得到广泛应用［1］。高性能嵌入式芯片中的寄存器、一级高速缓存和二级高速缓存使用的都是嵌入式存储器［2］，嵌入式存储器的优劣对嵌入式系统的影响越来越大，因此设计一款专用的NORFlash存储器控制器具有重要意义。

许多NOR Flash在设计完成后，无法从片外对其进行测试，一旦嵌入式芯片出现工作异常的情况，很难对NOR Flash进行失效分析［3］。本文设计的NOR Flash控制器，除了具有保证存储器与内核正常连接的控制功能外，还具有测试接口，可以从片外对存储器进行测试，增强了NOR Flash的可测试性。……