马彦云，吴晓峰，王效春，谭 艳，秦江波，张 磊，王 乐，张 辉

弥漫性轴索损伤（diffuse axonal injury，DAI）又称脑白质剪切伤，是由脑灰白质受到剪切力作用后引起的，以脑内轴索广泛水肿、断裂以及并行小血管损伤的严重的闭合性、弥漫性脑损伤。随着交通伤尤其是高速公路交通伤的日益增多，DAI的发病率呈明显上升趋势。研究表明，由剪切力造成的脑实质内出血及非出血性小病灶是导致脑外伤（traumatic brain injury，TBI）患者死亡、植物生存状态及严重神经功能障碍的重要原因［1］，与患者外伤后的症状、体征、转归及预后密切相关。但CT和常规磁共振成像（MRI）检查对DAI病灶的检出率较低，不能满足临床诊断的要求。磁敏感加权成像（susceptibility weighted imaging，SWI）是观察细微的血管结构、微血栓及程度不一的微出血灶，鉴别出血及其降解产物的最为敏感的序列［2-4］。本研究将SWI与常规MRI序列进行比较，旨在分析SWI在DAI中的诊断价值。

1 资料与方法

1.1 一般资料 收集2011年8月—2013年2月在我院临床确诊为DAI的患者21例，其中男16例，女5例，年龄12岁～68岁，平均41.5岁，均无头部手术史及神经系统疾病史，CT检查未发现明显异常或者损伤灶不位于典型部位，外伤后有意识障碍或一过性意识障碍，外伤后2周内行头颅MRI及SWI检查的，图像无伪影，可清晰诊断DAI的首次闭合性脑外伤患者。

1.2 MRI检查方法 采用Siemens Magnetom Avanto1.5T磁共振成像系统，仰卧位，头颈联合8通道头颅相控阵线圈。常规横断位（T1WI、T2WI、FLAIR）、DWI及横断位SWI扫描。各序列扫描参数如下：①常规扫描，常规TSE序列：T1WI轴位（TR=1 95.0 ms，TE=4.8 ms），T 2 WI轴位（TR=4 0 0 0 ms，TE=98.0 ms），FLAIR 序列 T2WI（TR=11 070 ms，TE=111 ms，TI=2 500 ms）及SE序列EPI-DWI（Diffusion weighted imaging）（TR=2 900 ms，TE=89 ms，b值为1 000 s／mm2），层厚=3.0 mm，层间距=0.6 mm，矩阵=256×256，FOV=240 mm×240 mm。②SWI序列，高分辨率3D扰相位梯度回波（3DFLASH），TR=49 ms，TE=40 ms，反转角15°，FOV 230×201，矩阵256×202，激励次数1，层厚2 mm；……