钟伟宏，刘炎华，孙 玲,3

（1.南通富士通微电子股份有限公司，江苏 南通 226019；2.南通大学，江苏省专用集成电路设计重点实验室，江苏 南通 226019；3.计算机体系结构国家重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190）

1 引 言

随着国内集成电路设计水平和半导体制造技术的不断提高，片上系统（System on Chip，SoC）已经成为国内集成电路设计公司的主流产品和重点研发方向[1～3]。一个典型的SoC系统通常集成了微处理器、嵌入式存储器、模拟IP核和数字IP核等多个功能模块。由于SoC本身功能的复杂性，使得SoC芯片功能的验证变得非常困难。更快的处理速度以及更低的工作能耗也对SoC芯片测试提出了更为严格的要求。SoC测试技术作为SoC设计的关键技术之一，一直是人们关心和研究的热点[4～5]。

目前，半导体行业中常见的解决方法是采用造价昂贵的高端测试平台来进行SoC量产测试。由于测试开发是滞后于芯片开发的，因此，测试也是一个比较费时间的过程，而量产测试所耗费的自动测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）时间直接决定芯片的测试成本。完全依赖ATE来测试SoC会在无形之中增加芯片的测试成本。据报道，复杂的SoC芯片测试成本可能将占到芯片总成本的30%～50%[6]，测试成本已是SoC产品设计过程中一个不可忽略的因素，如何降低测试成本越来越成为集成电路设计公司关注的焦点之一。本文针对一款应用于数字卫星广播系统中的SoC芯片，采用片外信号源方法提出了一种低成本SoC测试方案。

2 待测SoC系统芯片简介

数字视频广播（Digital Video Broadcasting，DVB）系统[7～9]被公认为目前全球推广最成功的两大民用系统之一，而DVB-S卫星数字电视是技术发展得最完善的系统。……