韩金池，邹 军

(清华大学电机工程与应用电子技术系，北京 100084)

0 引言

对于形状不规则导体电阻的求解通常有两类方法:一类是通过实验方法测量，即对导体两端加电压测量流过导体的电流，或对导体通入恒定电流测量导体两端的电压，电压和电流之比即为导体的电阻;另一类方法是利用电场计算，通过给定导体中电流场的方程和边界条件，求解偏微分方程得到导体两端电位差求得导体电阻。但以上两类方法都存在一定的局限:实验方法受到条件的限制，有时对于一些体积较大的导体电阻也不便于用实验的方法进行测量;很多不规则导体的电阻难以利用电场计算的方法得到解析解，而数值解法需要使用特定的软件。有时无法使用上述两类方法，而又需要对形状不规则导体电阻进行估算。对于这种需求，本文讨论了一种不规则形状(L型)薄导体片电阻的简化估算方法，并对该方法的合理性及误差进行分析。

通常对于不规则导体电阻估算使用图解法，将它划分成若干长方体电阻进行估算，这样的估算方法是基于在所划分的长方体区域内电流场分布均匀的假设，但显然该假设在划分不足够细的情况下未必成立，特别是在贴近转角处由于电流线靠近导体边界，在这样的区域内长方形电阻等效的方法误差会较大。因此，本文提出一种对转角处电阻做圆弧电阻等效，对距离转角较远处做长方体电阻等效的方法，对L型薄导体片电阻进行估算。……