化学镀N i-P镀层状态对引线键合的影响(2)
2012-07-31蔡积庆
印制电路信息 2012年3期
蔡积庆 译
(江苏 南京 210018)
(接上期)
3.3 化学镀Ni-P析出状态时对Ni局部腐蚀的影响
析出状态为层状和柱状析出的化学镀Ni-P镀层之间确认了镀Au层表面上扩散的Ni浓度的差异。这是由于与还原镀Au置换镀Au时进行的Ni局部腐蚀现象有关,观察了还原镀Au层/置换镀Au层/Ni-P镀层的截面和剥离镀Au层以后的Ni镀层状态。如图6所示,使用柱状析出的化学镀Ni-P镀层,进行还原镀Au/置换镀Au时,确认了Ni-P镀层上多数的孔蚀(Hole Corrosion)。这些多数的孔蚀发生在浅表层区域,一个个的孔蚀部分连接起来而呈现扩大倾向。P含量6 wt%的Ni-P镀层上孔蚀显著,与之相比,P含量8 wt%的Ni-P镀层表现出抑制孔蚀的倾向。另一方面,具有层状析出的化学镀Ni-P镀层情况下,孔蚀从Ni表面向深度方向进行,Ni表面的孔蚀数比柱状析出的化学镀Ni-P镀层表现出减少的倾向。另外,同样的层状析出的化学镀Ni-P镀层中,由于P含量从6 wt%(镀液C)上升到8 wt%(镀液D)而孔蚀数减少且孔蚀深度变浅。根据上述结果可知,由于热处理而使Ni难以扩散到Au表面,可以获得粘结性良好的化学镀Ni-P镀层抑制了置换镀Au时的Ni表面的局部腐蚀。

3.4 Ni析出状态时基底金属熔出行为的影响
根据上述结果可知由于基底化学镀Ni-P镀层的P含量和析出状态而产生Ni局部腐蚀的差异,热处理以后从腐蚀部分的基底金属扩散,使引线键合发生很大差异。使用自制的简易加速试装置监控各种化学镀Ni-P镀层中基底金属的溶出行为,研究Ni-P镀层析出状态对析出的Au/Ni-P镀层的耐蚀性的影响,结果如图7所示,研究直到Ni溶出的时间,结果确认了基底金属溶出的反应溶液的顺序为镀液A→镀液B→镀液C→镀液D。……
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