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基于CMOS工艺平台反熔丝FPGA实现

2012-07-02石乔林李天阳

电子与封装 2012年8期
关键词:工艺

陶 伟,石乔林,李天阳

(中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214035)

1 引言

对于集成电路在卫星系统中的应用,设计人员可以选择的技术包括:专用集成电路(ASIC)、以SRAM为基础的现场可编程逻辑阵列(FPGA)、反熔丝为基础的FPGA。对于以上三种技术,设计人员需要针对特定的应用权衡取舍各种特性,以找出最佳的解决方案。

对于多数卫星的运载舱和有效负荷设备,ASIC是具有高密度、最小重量和最低功耗的解决方案,但是缺乏FPGA所提供的灵活性。而且,把设计工具成本、校验时间和非经常性工程费用(NRE)一并考虑后,ASIC也是成本最高的解决方案。以SRAM为基础的FPGA优势在于拥有高逻辑密度和高灵活性,可在卫星发射前后期修改设计,因此多用于有效负荷设备中。然而,灵活性的增加会提高系统的复杂性,并增加元件数目和功耗、降低总体可靠性。更关键的是由于其更容易受到宇宙辐射,产生单粒子效应(SEU)干扰。以反熔丝为基础的非挥发性FPGA器件比ASIC和SRAM产品具有更多优势,采用抗辐射的反熔丝FPGA,设计人员可以免除ASIC设计中那些NRE成本和工程延误风险,并且可享有只有FPGA才能提供的设计灵活性和产品快速上市的优势[1]。

目前国外对于反熔丝FPGA开展了很多研究[2~6],ACTEL等公司已经相继开发出一系列的产品。主要实现方法包括MTM和ONO熔断技术[7~8]。但由于工艺平台的限制,国内尚未见反熔丝FPGA的报道,使我国卫星和军事应用受到极大的限制。针对目前现状,本文利用普通CMOS工艺,开发出一种反熔丝技术,可满足不同应用领域的要求。……

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