孟宪胤，李洪发，王春雨，王 悦，郑 朝

（天津医科大学口腔医院正畸科，天津300070）

X线头影测量技术是口腔正畸及正颌外科诊断分析、矫治设计以及科研工作重要的辅助手段，近年来得到了越来越广泛的应用[1]。特别是数字化技术的发展和应用，能够获得更加清晰的颅颌面X线片，使研究数据更加精确，研究工作更加便捷。但是，如果没有正常参考值，就不能对异常进行判定，也就不能进行正确诊断和治疗。研究结果表明，不同地区、不同种族间其颅颌面特征均存在着差异[2-4]，因此必须建立本地区X线头影测量的正常参考值，才能使对错畸形的诊断更加准确，才能制定出更加完善的矫治方案，对口腔正畸临床及科研工作具有重要指导意义。笔者通过对天津市60名乳牙期正常儿童（男女各半）的颅颌面形态特征进行研究，利用WinCeph8.0软件进行测量、分析，得出天津市乳牙正常X线头影测量的正常参考值，为口腔正畸临床及科研提供参考依据。

1 资料和方法

1.2 研究方法

1.2.1 拍摄头颅侧位定位X线片 对每一位研究对象均采用天津医科大学口腔医院放射科头颅定位仪（Sirona Orthopho DC.德国）定位，由专职人员拍摄和打印。拍摄时以头颅定位仪进行定位，调节左右耳塞进入两侧外耳道不能过紧或过松。让鼻根点只是抵于鼻根部皮肤，眶耳平面与地平面平行，要求研究对象用吞咽咬合法或鼓腮咬合法确定正中进行拍摄。

1.2.2 头影测量图的描绘、定点 将所有研究对象头颅侧位片图像刻光盘，利用计算机，由作者本人在一定连续时间内，应用WinCeph 8.0软件进行分析指标的程序设置后对X线头颅侧位片进行定点和测量。……