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关于塑封集成电路分层失效的机理研究及生产工艺改进建议

2021-11-10颜红

科技信息·学术版 2021年23期

颜红

摘要:FCBGA封装器件作为现代复杂电子产品重要功能元器件,对电子产品小型化、低功耗、高性能等特性发挥主要作用!然而由于FCBGA封装器件采用了特殊倒扣封装工艺,其封装体易吸附一定水分,导致如果保存、焊接工艺不规范时可能出现器件分层短路等现象。本文通过分析提出了关于这类器件的保存、焊接、使用等建议,希望能对提高该类器件使用效能提供帮助。

关键词:FCBGA;倒扣封装工艺;故障机理分析

概述

集成电路(IC)经过几十年发展,对于推动经济社会发展、增强国防实力等发挥了巨大作用。如果没有良好的封装技术,芯片的使用、存储、运输等是非常困难的。

芯片的封装技术也经历好几代的发展,从DIP、QFP、PGA、BGA、CSP再到MCM,技术指标不断提升,频率越来越高、耐温性能越来越好。引脚增多、重量减轻、可靠性提高,使用更方便。在众多封装技术中,塑料类封装在市场中具有很高的市场份额。

塑封器件是指集成电路芯片经过塑料封装,起到安放、固定、密封和保护芯片的作用,还将芯片内部各种信号通过导线连接到塑料封装外壳引脚上,方便设计、使用和生产。尤其是大规模的FCBGA(FilpChipBGA)封装器件在电装焊接后,容易因内部受潮出现焊料重熔短路问题。本文结合实际案例进行问题定位、机理分析、改进建议及措施,对该类器件正确使用、装配和保存有一定指导作用。

1、故障情况

某批次FCBGA封装的DSP芯片经过焊接后,发现有6块DSP芯片无法使用仿真器进行程序仿真调试或GPIO管脚功能不正常。……

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