扫描电镜和X射线能量色散谱仪在涂层脱落现象分析中的应用
2021-10-09刘漪涛王福光崔树林李航何德水
电镀与涂饰 2021年17期
刘漪涛 ,王福光,崔树林,李航,何德水
(1.北京新风航天装备有限公司,北京 100854;2.海装驻北京地区第二军事代表室,北京 100854)
电子显微技术的发展令扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、X射线能量色散谱仪(EDS)、紫外光电子能谱仪(UPS)、俄歇电子能谱仪(AES)等电子显微仪器日渐普及,目前这些电子显微仪器的应用范围已经开始拓展到航空航天等尖端制造企业的生产质量控制过程。SEM-EDS因具有适用范围广、对样品要求低、分析快速、结果直观等优势[1-2],在原材料质量鉴定、涂装质量检测、不合格品判定、涂层失效分析等方面具有广阔的应用前景[3-4]。本文举例说明 SEM-EDS技术在防热涂层脱落失效分析中的应用。
1 涂层脱落情况
某型飞行器舱体表面的环氧基防热涂层固化后,在舱体圆形设备安装孔周围的涂层与产品之间出现缝隙,用工具撬动就有大面积涂层脱落。该产品的金属基材为ZM5铸造镁合金,金属基材表面有氧化镁保护层,底漆为环氧底漆。从图 1可见,涂层脱落位置对应的产品表面呈现完整的古铜色氧化镁保护层,目视无底漆及涂层残留,说明底漆和氧化镁保护层之间脱粘。如图2所示,脱落下的涂层内侧有完整的浅黄色底漆层,目视没有氧化镁保护层附着。另外,脱落的涂层附着在遮蔽保护物之上(产品上该区域不能有涂层),在撬下涂层时,遮蔽保护物与附着在产品表面的涂层一起脱落。

图1 产品脱落位置的宏观形貌Figure 1 Macroscopic morphology of the position of exfoliation on the product
2 微观形貌分析
采用SEM对涂层的脱落界面(即图2中脱落区域内的界面)进行形貌分析。……
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