龚小维

（中国西南电子技术研究所，四川 成都 610036）

0 引言

可靠性增长试验的目的是暴露电子产品的设计缺陷、确定产品的故障模式[1]，并通过设计改进措施来防止故障再现、提高产品的可靠性，从而使产品的可靠性得以增长并达到规定的可靠性指标要求[2]。

某航天飞行器载小型化通信设备主要实现飞行器与中继卫星的前返向通信功能，在研制过程中通过施加综合加速应力来激发该设备故障，以改进设计，提升其可靠性。该通信设备可靠性增长试验总周期为55个循环，每个循环7 h，综合加速应力采用高低温、湿度、随机振动和电应力的综合。在进行到40个循环时，通信设备出现信道模块返向无射频信号输出，前向遥控接收不正常，并且基带模块异步串口无状态信息输出的异常现象。通过基于故障树分析和机理分析，故障定位于通信设备中超小型抗振恒温晶振减振器疲劳损坏致使引出端连接线断裂，导致通信设备无基准时钟输入从而出现上述故障。

本文对抗振恒温晶振的减振原理和损坏机理进行了分析，提出了改进措施，并对改进措施进行了仿真和试验验证，达到了提升产品可靠性的目的，对于提升类似航天电子产品的可靠性设计水平具有一定的参考意义。

1 抗振恒温晶振减振原理

随着空间技术的迅速发展，各种高速飞行器对其使用的电子仪器设备在振动、冲击和加速度等恶劣环境下的抗干扰能力提出了越来越高的要求[3]。……