摘要：本文介绍采用X荧光光谱法测定生铁中的硫、磷、硅三种元素的含量，得到一种可靠、有效的取制样方法，探索出了使用波长色散X射线荧光光谱仪测定公司生铁中硫、磷、硅含量的最佳分析条件，为日常生铁分析工作提供了一套完善高效准确的光谱分析方法。

关键词：X射线荧光光谱仪;生铁;硫、磷、硅的含量

生铁中的碳、硫、磷、硅元素的存在对冶金炼制过程有重要影响。碳的存在提高铁的机械性质，没有碳，生铁就失去了实用价值;硫是生铁冶炼当中的有害元素，由冶炼过程的焦炭侵入而来，其与铁生成硫化物，它的存在降低铁水流动性、增加生铁脆性和收缩性，是铁之大敌;磷由矿石和焦炭中来，其存在降低生铁熔点，增加铁水流动性、减少收缩，利于生铁铸造，但其优劣影响由其含量决定;硅油铁矿石的杂质和焦炭灰分中的二氧化硅还原而来，它能促进生铁中的碳化铁分解生成石墨铁，从而使生铁性质变软，利于浇铸、减少收缩，同时硅与铁水中的氧化合生成二氧化硅排出炉外，减少生铁中气孔的生成，并且它具有强氧化性，但是硅含量过高又会降低生铁的强度、硬度。

由此可见，在冶炼过程中需要控制碳、硫、磷、硅等素的含量。在原来的分析方法中，采用高频燃烧红外吸收法分析碳和硫两种元素，采用分光光度法分析磷和硅两种元素。化学方法分析，操作步骤繁琐、分析速度慢、周期长、工作量大、生产费用高。

在冶金生产过程……