温中凯，张庆君 ，李 爽 ，雷文平，杜国军

（1. 南京航空航天大学 航天学院，江苏 南京 211106；2. 中国空间技术研究院遥感卫星总体部，北京 100094；3. 北京空间机电研究所，北京 100094）

1 引 言

天基空间目标监视系统是我国战略预警体系的重要组成部分[1]，而空间光电跟瞄系统作为其主要载荷之一，具有在复杂天空背景下自动识别、捕获目标并进行高精度自闭环光学跟踪和高分辨率成像的能力[2]。由于空间光电跟瞄系统集高分辨率成像相机、宽视场搜索相机、激光测距发射机和激光测距接收机等多个光学子系统于一体，必然会产生各子系统间的光轴平行性标校问题。而标校精度将直接影响空间光电跟瞄系统的瞄准精度，是制约系统最终测量精度和跟瞄性能的关键。

目前国内外对多光轴平行性的研究多集中在实验室环境和外场环境两个方面。国内典型研究成果：徐丹慧、谢国兵等人研究了适用于实验室环境的多光轴平行性检测方法[3-5]；叶露、黄富瑜等人研究了适用于外场环境的多光轴标校系统[6-11]；国外典型研究成果：美国AAI公司研制的校轴设备ABE-301A[12-13]，德国Carl Zeiss公司研制的武器装备校轴调整系统WASVB[14]，瑞典SCHILL公司研制的舰船轴线检测系统aligner-308[15]，挪威METRONOR公司研制的HarmoLign武器校准系统[16]，以色列CI公司研制的AWBS武器轴线检测系统[17-18]等。然而，以上研究均未涉及真空环境下多光轴平行性标校技术，究其原因主要有三个方面：一是太空环境下，多光轴光电系统与观测目标的距离动辄数百公里，常需要系统具有不同功率的激光稳定地追踪目标，从而要求多光轴标校系统具有同时响应不同波长激光的能力，对多光轴标校系统的设计要求较高；……