邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究
2021-05-24赵永刚王同兴
张 燕,赵永刚,王同兴,沈 彦,王 凡,鹿 捷
(中国原子能科学研究院,北京 102413)
1993年,国际原子能机构(IAEA)通过了“93+2”计划,即通过加强核保障措施,能够更好地探测到已申报设施内的核材料转移(例如“经典”的保障方案),并更好地探测秘密核活动[1-2]。分析来源于核设施环境样品中铀微粒的同位素比,是公认的揭示存在未申报核活动的有效途径。在微粒分析中,二次离子质谱(SIMS)法和裂变径迹热电离质谱(FT-TIMS)法是可靠的单微粒同位素比值分析技术[3-5]。SIMS作为一种高效的微粒分析技术,在国际原子能机构网络分析实验室中得到了广泛的应用。
进行SIMS分析时,虽然到达样品表面的一次离子束斑尺寸最小可以达到1 μm甚至更小,但是对于低含量的同位素分析,需要较高的一次离子电流来提供足够的二次离子计数,使得结果有统计学意义[6]。IMS-6f型SIMS采用O2+源,电压为15 kV、束斑直径小于10 μm时电流为1~20 nA,测定234U/238U和236U/238U与参考值的相对标准偏差分别小于8.9%和13.1%[7]。IMS-1280型SIMS采用Cs+源,电压为10 kV、束斑直径小于10 μm时,电流为2.5 nA,测定16O-和16O-与参考值的相对标准偏差为0.3‰;一次束的束斑约2 μm时,电流为20~30 pA,测定16O-和16O-与参考值的相对标准偏差小于2‰[8]。微粒分析不同于整体的化学方法,其强调单个微粒的结果。SIMS分析前,需要将含铀微粒分散在SIMS专用的基底片上。常用的微粒回收方法有超声振荡法和真空抽吸-碰撞收集法,这两种方法都存在明显的微粒团聚现象,且无法消除[9-10]。微粒团聚或邻近可能对准确测量单微粒同位素产生影响,造成设施核活动的误判。……
