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基于UVM的验证接口封装方法

2021-05-12南京航空航天大学范仁艳

电子世界 2021年7期
关键词:效率环境设计

南京航空航天大学 范仁艳

中国科学院计算技术研究所 支 天

验证是集成电路设计过程中的重要环节,目的是为了发现设计缺陷。验证周期和验证对象的复杂性成正比。在保证验证质量的前提下,验证效率也是验证的重要指标。在基于UVM的传统验证环境中,driver、monitor、scoreboard等组件存在大量冗余重复代码,编码效率低,不易维护和管理,可复用性差,从而影响验证效率。针对此问题,在UVM环境框架基础之上,提出一种验证接口封装方法,达到一份代码多方复用的效果,提高验证效率。

集成电路IC(Integrated circuit)前端的开发通常是一个非常漫长的过程,需要经过前期的市场调研,中间的规格制定、方案开发,最后的代码设计等众多环节。验证是保证设计代码和最初的需求可以正确匹配的重要手段。验证的目的是为了发现设计代码的所有缺陷。

质量和效率是验证需要兼顾的两个重要指标。验证质量可由验证结束后是否存在遗漏缺陷衡量,验证效率体现在完成一次验证花费的时间。如何在保证验证质量的前提下,尽可能的提高验证效率是一个验证过程中需要持续解决的难题。验证的质量和效率体现在验证的各个环节中,验证的大致流程是:

(1)阅读学习设计人员提供的设计文档,进行提炼总结,输出验证功能点列表。功能点列表是否完备很大程度上决定了验证质量。

(2)输出验证方案,主要包含验证环境的框架结构,激励、参考模型的实现方式,检查机制等等。验证方案是搭建验证环境的重要参考,会直接影响验证效率。……

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