熔融制样–X-射线荧光光谱法测定伟晶岩中主次量组分
2021-05-07赵亚男王小强杜天军余文丽杨惠玲
赵亚男,王小强,杜天军,余文丽,杨惠玲
(1.河南省有色金属地质勘查总院,河南省有色金属深部找矿勘查技术研究重点实验室,郑州 450052;2.河南有色金属地质矿产局第七地质大队,郑州 450018)
岩矿分析是对矿物岩石的成分在不同赋存形态下的含量及其化学组成进行分析测定[1]。伟晶岩是一种稀有金属矿床的重要赋矿主岩[2],由硅酸盐残浆侵入到岩浆岩或围岩裂隙中缓慢结晶而成,其本质为铝硅酸盐岩石,组成复杂,种类繁多[3],其中SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、TiO2、K2O、Na2O、CaO 的总含量占90%以上[4],硅酸盐岩石的常规检测方法为化学法[5],以重量法为基础[6],还有容量法[7]、滴定法[8]、比色法[6]、原子吸收光谱(OES)法[9]等,此类方法操作繁琐,分析周期长,分析结果易受多种因素影响[10]。ICP–OES 法[11]虽然可以多元素同时分析,但只能测定少数几种低含量元素,而且前处理溶样过程比较繁琐[12]。
作为一种常规元素定性、定量分析方法[13],X-射线荧光光谱(XRF)法具有分析速度快、准确度和精密度高、自动化程度高、制样简单等特点[14],能同时测定多种元素,在地质样品分析中应用广泛[15]。XRF 光谱分析常用压片法和熔融法[16],XRF 分析硅酸盐岩石样品主次量组分已有报道[17–20],但伟晶岩样品XRF 分析检测鲜见报道。伟晶岩具有SiO2、Al2O3、K2O、Na2O 含量高,MnO、TiO2、Fe2O3、CaO、MgO 含量低的特点,其高含量K2O、Na2O 在实际检测时会引起干扰和偏离。
笔者采用熔融玻璃片法制样,利用一系列试验选择合适的测试条件,提高方法的精密度和准确度,消除样品粒度效应、基体增强吸收效应与共存元素的干扰,可以同时测定硅、铝、铁、钛、钾、钠等10 种主次量元素,取得了满意的结果。……
