刘明明，张 楮，贺先建，顾鹏程

（中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室，成都 610213）

0 引言

据公开文献显示，军工行业对电子设备的寿命分析和验证评价开展了广泛的研究，并取得了一些突破性的成果。例如张晓洁、王强[1]等人针对难以用试验法开展的电子产品，提出了一种通过收集环境试验数据对其平均故障间隔时间进行区间估计的寿命分析评估方法。另有，张宁、刘庭伟[2]等人提出电子产品在力、热、电单一应力作用下的失效机理，结合电子产品在典型工况条件下的仿真技术，利用多应力综合作用的累积损伤模型，量化产品的寿命指标。

作为核电厂的神经中枢，核电厂数字化仪控设备（以下简称仪控设备）的可靠性直接决定着核反应堆的安全性。仪控设备在役过程中，若运行维护人员未掌握其寿命信息，就很难准确地制定相关维护策略和备品备件的采购及管理策略，进而可能会导致电厂不合理地频繁更换设备；因为寿期降低电厂的经济性和加大电厂的经济投入，也有可能基于故障发生后的维护带来不可预估的事故风险。由于核电厂仪控设备寿命一般都在10 年以上，因而正常环境条件下、较短时间内准确评估验证寿命极其困难。对此，本文基于阿伦纽斯模型，提出了一种仪控设备加速寿命评估验证的方法，为解决此问题提供了较为可行的方法和思路。

1 仪控设备失效和老化机理

1.1 仪控设备老化

电子产品随着服役年限的增加，会不可避免地开始老化直至失效。……