孟庆法，田茜茜

(国家太阳能光伏产品质量监督检验中心，无锡 214028)

0 引言

近年来，行业内针对光伏组件电势诱导衰减 (potential induced degradation，PID)测试和湿热(damp heat，DH)测试的研究很多。何宝华等[1]、申织华等[2]、曾雪华等[3]分别从封装材料和太阳电池等方面研究了PID效应产生的机理，并指出了组件工作电压、工作温度、相对湿度及系统接地方式是影响光伏组件PID效应产生的重要因素。梁吉连等[4]从太阳电池的SiNx层入手，研究了SiNx层的不同折射率对太阳电池抗PID的影响。NAUMANN等[5-6]对出现PID效应的小型光伏组件中太阳电池表面的微结构进行了分析，发现引起PID效应的漏电流与金属Na+在太阳电池减反射膜表面的富集有关。PEIKE等[7]认为DH测试不会影响光伏组件正、背面的电荷收集，太阳电池及减反射膜的物理、化学性质均未发生改变。OH等[8]对光伏组件DH测试后的性能进行了研究，研究发现，太阳电池的栅线被氧化，导致电池的串联电阻增大。陆俊杰等[9]研究发现，长期的湿热环境条件容易引起光伏组件内部各种离子的迁移。

上述研究中，无论是PID测试还是DH测试，大部分都是针对光伏组件样品进行的研究，而针对光伏组件破拆后内部太阳电池的微观研究较少，针对光伏组件PID失效与DH失效之间的对比的微观研究更少。因此，本文对DH失效和PID失效的光伏组件进行了破拆，从中分别选取电致发光(electroluminescence，EL)图像中不同明、暗区域(正常区域、异常区域)的太阳电池作为测试样品，并进行了微观研究，通过对比正常区域和异常区域太阳电池样品的扫描电镜-能谱(SEM-EDS)测试结果，分析得出光伏组件DH失效与PID失效的内在联系。……