完全非接触式液晶玻璃基板缺陷检测技术研究
2018-08-11刘正勇刘晏王广炎陈友东
刘正勇 刘晏 王广炎 陈友东
(1合肥欣奕华智能机器有限公司,合肥,230013;2北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100191)
0 引言
液晶面板是信息产业时代的核心部件之一,广泛应用于社会生活的各个方面。作为液晶面板的重要组成部分,液晶玻璃基板上密集分布着被称为Pattern Line的电子线路,在制作过程中,由于Pattern Line的宽度和间距均在微米级,因此极易产生Pattern Line间的断路和短路,且在生产过程中会不可避免地存在缺陷点(NG点),从而直接影响液晶显示器产品的品质和稳定性。在生产过程中检测出这些缺陷点并进行分类,且对可修复的缺陷点进行修复,不仅可以提高最终产品质量,还可以提高产品良品率、降低成本。
液晶玻璃基板检测一般分为光学检测和电学检测两种方法。光学检测技术是一种共性技术,应用广泛[1-3],针对这种技术的研究相关文献也较多[4-9]。
光学检测技术在液晶玻璃基板线路检测方面有较多应用,如文献[4]介绍了投射电容屏ITO电路检测用线阵CCD成像系统的设计;文献[5]研究了LCD基板线路的自动光学检测系统,此技术亦可用于玻璃基板的质量检测;文献[6-8]主要介绍了基于机器视觉的液晶玻璃基板质量在线检测系统;文献[9]研究了应用几何光学原理实现玻璃基板厚度和弯曲度的CCD检测方法。
光学检测技术通过工业相机获取玻璃基板表面电路光学图像,并运用复杂的算法[10]与电路标准形状进行比对,再根据其差异识别出Pattern Line的缺陷。由于Pattern Line非常密集,且玻璃基板尺寸较大(最大可达到3370mm×2940mm),利用光学检测方法会涉及到大量的图像处理工作,所以检测基板所用的时间较长[11]。……
