李 琦，郭昌宏，李习周，张易勒

(天水华天科技股份有限公司，甘肃 天水 741000)

测试是产品到客户端最重要的环节，其主要目的是检测产品功能参数，根据客户的要求将良品、不良品区分开来。在集成电路（以下简称IC）测试生产中，为了提高测试效率，提高产量，经常采用多工位测试方法。但是在更换测试板的过程中，经常会出现低级的错误，仅仅依靠人工去检查预防测试中存在的错误隐患，是远达不到要求的。因此，就要求用一种简单容易操作的方法来预防隐患的发生。防呆技术最早是由新江滋生提出来的，目的是即便由于操作人员人为疏忽，也不会导致错误产生。新的操作人员只需要参加岗前培训，在老员工的指导下，就能容易操作。为此，在实际的测试生产过程中，采取硬件部分和软件部分进行防呆的研究与实现。

1 测试系统

1.1 测试系统结构

集成电路成品测试通常由自动测试设备（Automatic Test Equipment简称ATE，也叫测试机，Tester），分选机（也叫机械手 handler），测试板卡（Load board，或 DUT板），通信板卡（Signal board，也叫信号板卡）等构成的自动测试系统来完成对IC功能参数的测试。典型的测试系统结构如图1所示。

图1 测试系统结构

测试机与分选机的测试信号处理（正确的连接方式），如图2所示，测试机与分选机的测试信号处理（交叉连接方式），如图3所示。

图2 测试机与分选机正确连接方式

1.2 测试排线交叉连接存在的风险分析及研究

以Site1上产品为良品，Site2上产品为不良品，且以双站（Station A和Station B）并行测试为例，测试排线交叉……