高导热要求的CSOP陶瓷外壳热设计
2017-09-03余咏梅
电子与封装 2017年8期
余咏梅
(福建闽航电子有限公司,福建南平353001)
高导热要求的CSOP陶瓷外壳热设计
余咏梅
(福建闽航电子有限公司,福建南平353001)
文章介绍了CSOP陶瓷外壳的热设计。主要通过散热结构设计、散热结构的材料选择、散热结构加工工艺等来实现。经热阻仿真、Rθjc测试来验证热设计结果,证明能够实现小外形陶瓷外壳高导热要求,为小外形陶瓷外壳的热设计提供了借鉴。
CSOP;导热孔;钎焊孔隙;热沉
1 引言
集成电路发展要求封装功能和性能更优、体积越来越小、功率密度更大、节能环保等。随着半导体工艺技术的不断发展,芯片的工作电压不断降低,对陶瓷外壳压降、热耗散的要求更高。
由于塑封产品在气密性、热特性、贮存和工作温度等可靠性方面存在较大的缺陷,需用陶瓷封装替代。多电源电压供电系统对压降、热耗散有一定的要求,因此,对配套的陶瓷封装外壳的低电阻、低热阻设计也提出了要求。
2 CSOP陶瓷外壳热特性要求
集成电路体积要求越来越小,CSOP封装形式是一种理想的选择,它外形尺寸小、厚度薄,采用平行缝焊或金锡熔封封装工艺。热特性要求热阻值必须根据电路的使用要求,控制在规定的范围值内。CSOP封装器件在板级组装过程中存在可靠性问题,对CSOP陶瓷外壳提出了热特性要求。
以几款典型电路为例,如多电源电压供电系统需要3 A带VTT(电压匹配功能)的电流源/电流沉调整器、双路输出线性低压(LDO)型电压调整器等集成高性能LDO,为VTT轨提供电源,通过更改LDO的输入,以优化总功耗。……
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