退火温度对TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜光电性能的影响
2017-08-07朱留东武军伟薛晋波胡兰青
朱留东 武军伟 薛晋波 钱 凯 胡兰青*,
退火温度对TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜光电性能的影响
朱留东1,3武军伟1,3薛晋波*,1,2,3钱 凯1,3胡兰青*,1,3
(1太原理工大学新材料界面科学与工程教育部重点实验室,太原 030024)
(2太原理工大学新材料工程技术研究中心,太原 030024)
(3太原理工大学材料科学与工程学院,太原 030024)
采用水热法在FTO上制备(001)高活性晶面主导的TiO2纳米片薄膜,利用循环伏安法在TiO2纳米片薄膜上沉积CdSe颗粒,制备了TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜。分别在150、250、350、450℃,氩气保护气氛中对样品进行退火。利用X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FESEM)、X射线光电子能谱分析仪(XPS)、紫外-可见(UV-Vis)分光光度计以及电化学工作站对不同温度退火后的TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜的微观形貌、晶体结构、光电化学性能进行表征和测试。结果表明:六方相CdSe纳米颗粒均匀包覆在TiO2纳米片表面,直径30 nm左右;随着退火温度的升高CdSe纳米颗粒长大,形成光滑的CdSe薄膜,且晶化程度提高;TiO2纳米片表面的Se元素与Cd元素发生氧化;TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜对可见光的吸收光谱发生红移,禁带宽度逐渐减小。光电化学性能测试表明随着退火温度的升高,TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜的光电流密度显著提高,开路电压减小,但由于SeO2和CdO的出现,导致填充因子减小,影响光电转换效率的提高。在本实验条件下,TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜的最佳退火温度为150℃,填充因子为0.77,光电转换效率达到3.12%。
(001)高活性晶面;电化学沉积;TiO2/CdSe纳米片异质结薄膜;退火温度;光电性能
0 引 言
TiO2是一种优良的半导体材料,其成本低、化学稳定性高、无污染[1-2],已广泛应用在光催化降解污染物[3-4]、敏化太阳能电池[5-6]、光催化产氢[7-8]等领域。……
