陈德舜

（中国振华集团云科电子有限公司，贵州贵阳550018）

片式膜电阻器的典型失效模式尧机理及原因分析

陈德舜

（中国振华集团云科电子有限公司，贵州贵阳550018）

院首先，对片式膜电阻器的结构和工艺流程进行了简单的介绍曰然后，对片式膜电阻器典型的失效模式和失效机理进行了总结曰最后，通过案例，对片式膜电阻器两种典型的失效现象的原因进行了分析，对于相关工作人员了解片式膜电阻器的失效原因和机理，从而改善其工艺过程具有一定的参考价值遥

院片式膜电阻器曰工艺流程曰失效模式曰失效机理曰失效分析

0 引言

近年来，随着电子设备朝短小轻薄的方向发展，片式电阻器行业也得到了迅速的发展，其可靠性问题也引起了人们越来越多的关注遥虽然片式电阻器的工艺流程得到了很大的改善，但当产品投入市场使用时，其失效现象仍时有发生，因此，本文对片式膜电阻器的典型失效模式尧机理和原因进行了研究，以供相关工作人员参考遥

1 片式膜电阻器的结构和工艺简述

片式膜电阻器的结构如图1所示[1-2]遥

图1 片式膜电阻器结构示意图

片式膜电阻器的工艺流程为:在已预制沟槽的陶瓷基板上印刷正面电极寅印刷背面电极寅高温烧结寅印刷电阻体寅高温烧结寅印刷保护玻璃寅高温烧结寅激光调阻寅印刷保护玻璃寅印刷标志寅端电极制成寅高温烧结寅端面处理寅成品测量寅筛……