晋李华，刘中华

（中国电子科技集团公司第十三研究所，河北石家庄050051）

微波组件产品高加速寿命试验综述

晋李华，刘中华

（中国电子科技集团公司第十三研究所，河北石家庄050051）

院微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域，其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素遥高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节，从而改善产品的可靠性遥因此，对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍，对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义遥

院高加速寿命试验曰抽样要求曰工作极限曰破坏极限曰试验过程

0 引言

微波组件产品是由各种微波元器件和其他零部件组成，用同轴尧波导或其他传输线形式与外电路相连，在系统中能够独立地完成特定功能的小型化微波电路类产品遥近年来，微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域，其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素，因而对于其可靠性提升方法的研究具有重要的现实意义遥高加速寿命试验（HALT:Highly Accelerated Life Test）能够在产品开发的早期阶段识别出产品的工作和破坏极限，从而优化产品的可靠性遥因此，本文对微波组件产品的HALT方法进行了详细的介绍，以期对微波组件产品的HALT的正确开展及其可靠性水平的提高有所裨益遥

1 高加速寿命试验介绍

HALT是一种通过让试验样品承受不同的试……