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X射线荧光光谱法测定铝硅铜合金中主次元素含量

2017-06-10黄显铭

理化检验-化学分册 2017年4期
关键词:分析

黄显铭

(兵器工业西南理化检测中心,重庆401120)

X射线荧光光谱法测定铝硅铜合金中主次元素含量

黄显铭

(兵器工业西南理化检测中心,重庆401120)

铝硅铜合金是当今公认的一种高强度压铸铝合金,在国外已广泛应用于家用电器、汽车、摩托车等零件,在我国应用起步较晚,还有许多特性有待研究和开发。

铝硅铜合金中主次元素含量的高低将直接或间接地影响材料的性能与用途,尤其是硅、铅、锡、锆等元素,因此铝硅铜合金中主次含量元素的测定非常重要。目前测定铝硅铜合金中主次元素含量的常用方法有化学法[1]、原子吸收光谱法[2]、发射光谱法[3]、光电光谱法[4]和电感耦合等离子体原子吸收光谱法(ICP-AES)[5]等,而这些方法普遍存在一些缺陷,如仅单元素分析、前处理较复杂、耗时较长、对环境造成污染等。由于X射线荧光光谱法(XRF)样品制备简单,且可多元素同时快速分析,目前已广泛应用在分析中。本工作采用波长色散-X射线荧光光谱法同时测定铝硅铜合金中主次元素含量,方法快速、简便、准确、无损,对提高铝硅铜合金中主次元素含量的日常检验效率、节约分析检测成本、减少环境污染等具有重要的实际意义。

1 试验部分

1.1 仪器

S4-PIONEER型X射线荧光光谱仪,端窗配(4kW)铑靶X光管。

1.2 仪器工作条件

X射线荧光光谱仪主要的技术参数见表1。

表1 X射线荧光光谱仪的技术参数Tab.1 Parameters of XRF

1.3 试验方法

1.3.1 样品制备

铝硅铜合金经车床加工成直径30~40mm,厚度20~40mm的样品块,准备用于测定的一面应去掉表皮1~2mm,并加工成光洁的表面,放入干燥器中待测。……

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