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某大型电子系统可靠性指标验证方法

2017-06-01马铖

电子产品可靠性与环境试验 2017年2期
关键词:设备信息方法

马 铖

(中国西南电子技术研究所,四川成都610036)

某大型电子系统可靠性指标验证方法

马 铖

(中国西南电子技术研究所,四川成都610036)

对于大型电子系统而言,进行全系统的可靠性鉴定试验时,存在试验能力不能满足要求的困难;同时,又因为环境应力无法人为控制、系统有效工作时间有限等因素,进行外场可靠性定量评估又存在欠试验的风险。针对某大型电子系统,通过将部分已定型设备置于试验箱外的方式对其进行了可靠性鉴定试验,并运用贝叶斯方法对其外场可靠性进行了定量的评估。结果表明,其基本可靠性和任务可靠性满足合同规定的指标要求,从而证明了该方法的有效性,对于大型电子系统的可靠性指标验证具有一定的借鉴意义。

大型电子系统;可靠性指标验证;任务可靠性;贝叶斯方法

0 引言

随着电子技术、计算机技术的发展,现代化装备的功能越发强大,电子系统的组成设备的数量越来越多,交联关系和功能性能测试越发复杂,而用户对其可靠性水平的要求也逐步地提高[1],因此,如何对其可靠性指标进行验证成为了一个愈加突出的问题。本文介绍了对某大型电子系统的可靠性指标进行验证的方法,希望能够对今后的大型电子系统的可靠性指标验证起到一些借鉴作用。

1 某系统的可靠性指标验证难点

某大型电子系统由数个分系统组成,包含十余个设备机柜、计算机台位和几十台设备(套),研制厂家众多,接口关系和设备交联关系极其复杂,其可靠性指标既有基本可靠性指标又有任务可靠性指标,随着项目的进展,如何对此大型电子系统的可靠性指标进行考核与验证成为了一个急需解决的问题。……

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