李福林 韩继红 张畅

(1.解放军信息工程大学,郑州 450001;2.军队信息安全重点实验室,郑州 450001)



二端口波混沌腔体短迹线随机耦合模型

李福林1,2韩继红1,2张畅1

(1.解放军信息工程大学,郑州 450001;2.军队信息安全重点实验室,郑州 450001)

经典随机耦合模型在对电子设备的电磁脉冲效应进行预测时,边界条件设置在无穷远处,存在短迹线效应问题.采用设置辐射阻抗短迹线调制系数的方法,建立了二端口波混沌腔体短迹线随机耦合模型(Short-Orbit Random Coupling Model,SORCM),统计分析了目标点处感应电压的均方根误差随短迹线最大长度的变化关系.在不同的频段范围内,将SORCM计算结果的统计特性和实验结果进行了对比分析,验证了所建立模型的正确性.和经典随机耦合模型相比,SORCM的计算结果更加接近实测结果,可用于复杂电子设备电磁脉冲效应的预测和分析.

波混沌腔体;电磁脉冲效应;SORCM;辐射阻抗

DOI 10.13443/j.cjors.2016070501

引 言

随着电子技术的高速发展,大规模集成电路技术在各类电子设备中广泛应用,在提高电子设备处理能力的同时,也使得这些设备的电磁敏感度越来越高[1].超宽带(Ultra-Wideband, UWB)、高功率微波(High Power Microwave,HPM)等强电磁脉冲通过瞬态干扰、微波加温、高压击穿、电涌冲击等模式,造成电子元器件性能下降、状态反转、结点击穿、器件烧毁,妨碍电子设备的正常运行和作用发挥.开展电磁脉冲效应规律研究对于探索相应的防护措施、增强电子设备的生存能力具有重要意义.

由于电子设备内部结构的复杂性,其电磁脉冲效应……