王大鹏 宋欢 胡耀垓 谢存 赵正予

(1.武汉大学电子信息学院,武汉 430072;2.武汉军械士官学校,武汉 430075)



斜测电离图描迹的自动提取

王大鹏1,2宋欢1胡耀垓1谢存2赵正予1

(1.武汉大学电子信息学院,武汉 430072;2.武汉军械士官学校,武汉 430075)

提出了一种能同时获取斜测电离图描迹和参数的方法,该方法采用准抛物模型描述电离层F2层电子浓度分布.利用正割定理、Martyn等效虚高定理、图像处理技术和电离图的回波特征确定部分电离层状态参数的最终值和部分参数的初始值及搜索空间.然后,利用最小群时延和残差分析提取Es层描迹.最后,使用混合遗传算法从搜索空间范围内找出一组最优参数,使合成的斜测电离图F2层描迹与真实描迹吻合得最好.为了验证自动提取方法的有效性,对240张斜测电离图进行了自动提取,将得到的结果与斜测电离图的人工提取结果进行比较,结果显示该方法能够较准确地提取斜测电离图描迹和参数.

斜测电离图;自动提取;混合遗传算法

DOI 10.13443/j.cjors.2015110604

引 言

斜向探测能够获得描述收发站之间电波传播群时延对频率关系的电离图,称之为斜测电离图.通过提取和分析斜测电离图中的数据,可为收发站台之间的短波通信提供最佳通信频率,还可以获取传播路径中点上空的电离层状态信息.短波通信主要靠电波在电离层中的反射来实现,而对电波反射起主要作用的是电离层的F层.F层可分为F1层和F2层.对斜测电离图来说,F1层往往没有充分……