XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素
2016-07-12杨守业胡兆初黄湘通
徐 娟,杨守业,胡兆初,罗 涛,黄湘通
1. 同济大学海洋地质国家重点实验室,上海 200092 2. 中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室,湖北 武汉 430074
XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素
徐 娟1*,杨守业1,胡兆初2,罗 涛2,黄湘通1
1. 同济大学海洋地质国家重点实验室,上海 200092 2. 中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室,湖北 武汉 430074
采用高纯HNO3为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO2为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都在允许范围内,XRF三次熔片测试结果的精密度RSD<5.6%;LA-ICPMS 15次测试结果精密度RSD<3%。表明建立的硫化物熔融玻璃片的前处理方法可较好的应用于XRF和LA-ICPMS分析硫化物中的主次量元素。
硫化物;X射线荧光光谱仪;激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪;氧化剂;二氧化锗
引 言
目前,硫化物的测定通常采用化学法[1],电感耦合等离子体法[2]等。但这些方法分析流程较长,所需试剂多,处理过程较为繁琐。X-荧光光谱分析仪(XRF)是一种常用的主量元素分析仪器,具有样品前处理简单,快速、准确的优点[3]。20世纪80年代中期发展起来的激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱仪(LA-ICP-MS)是一种新型的分析技术,具有原位、实时、快速的分析优势以及灵敏度高、检出限低、谱线相对简单、多元素同时测定的能力,广泛应用于主量、微量、痕量元素的分析[4]。激光剥蚀等离子体质谱是一种微区分析技术,每次分析进样量很少(一般只有50~1 000 ng),要想剥蚀的样品能够代表实际样品的化学组成,所剥蚀地质样品应具有很好的均一性。……
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