应用多参数技术方法对脑缺血皮质区神经细胞凋亡的检测

张文丽朱莹王瑞敏李倩郭静刘国荣耿福

(河北联合大学医学实验研究中心， 唐山 063000)

摘要：随着生物科学研究技术的不断提高和对细胞凋亡认识的不断深入，在细胞凋亡确认过程中，若单独使用一种方法检测会出现一定概率的假阳性，往往需要采用多参数技术方法相互印证。本实验结合透射电镜、流式细胞仪和共聚焦显微镜的检测技术及原理，通过多技术相结合观察判断了急性脑缺血皮质神经元细胞凋亡,并进行了定性、定量分析。

关键词：脑缺血；皮质细胞；凋亡检测

作者简介：张文丽，女，1974年出生，高级实验师，研究方向：脑缺血及脑损伤机制，E-mail：dianj@163.com。

DOI:10.3936/j.issn.1001-232x.2015.01.014

收稿日期：2014-07-19

Detection of nerve cell apoptosis in ischemic cortex by multi-parameter technology.ZhangWenli，ZhuYing，WangRuimin，LiQian，GuoJing，LiuGuorong，GengFu(MedicalLaboratoryResearchCenter,HebeiUnitedUniversity,Tangshan063000,China)

Abstract:This article decided the acute ischemic cortex neurons apoptosis which combined the detection technology and principles of transmission electron microscope, flow cytometry and laser scanning confocal microscope. And conducted the qualitative and quantitative analysis.

Key words：cerbral ischemic; cortial cells; detection of apoptosis

1前言

脑缺血性疾病是人类常见病、多发病，有关研究较多。但迄今为止其机理仍未完全清楚。急性脑缺血在临床上是最常见的脑卒中类型，占全部脑卒中的60%～80%。近年来大量研究表明[1-3]，急性脑缺血通过各种原因引起脑血液循环灌注不足，脑组织发生病理性的改变。神经细胞的凋亡是脑缺血后神经元死亡的重要方式。正常脑发育过程中有30～70%的神经元是通过凋亡来清除老化细胞，细胞凋亡不仅在正常发育的神经元中发生，也在许多神经系统疾病中发生并起重要作用，如脑梗塞、脑外伤、脊髓损伤等。因此研究神经细胞的凋亡在神经科学中已成为了一个非常活跃的领域。细胞凋亡发生的原因和途径是复杂多样的，脑缺血损伤诱导神经元凋亡途径包括线粒体途径，单胺类神经递质受体途径，神经细胞内Ca2+超载和内质网应激途径等[4-6]。……