秦李青颜学龙

（1.桂林电子科技大学电子工程与自动化学院，广西 桂林 541004；2.桂林电子科技大学，广西 桂林 541004）

组合电路的故障测试生成并行ATPG算法研究

秦李青1颜学龙2

（1.桂林电子科技大学电子工程与自动化学院，广西 桂林 541004；2.桂林电子科技大学，广西 桂林 541004）

自动测试向量生成（ATPG）是借助计算机或者其他工具根据一定的测试生成算法自动的为被测电路生成测试向量的过程。文章给出了一种位级并行（split-into-W-clones）自动测试向量生成算法，该算法的判决按照位逻辑操作运算进行。通过将该算法与 SCOAP可测性测度结合起来，为该算法前后向蕴涵选择最优路径，提高每次回溯成功的概率，达到减少回溯次数、加速测试向量的生成和提高故障覆盖率的目的。通过实验看出改进后的算法具有良好的性能。

位并行自动测试向量生成算法；可测性测度；前后向蕴涵；故障覆盖率

早期的电路规模小，开发者用功能测试的方法就可以完成测试。但随着集成电路技术的发展，被测电路变得越来越庞大复杂，因此功能测试的方法已不再适用。为了解决测试向量生成的问题，随后致力于解决该问题的学者提出了一些算法，根据这些算法生成测试向量过程的特征，将其分为基于电路结构的 ATPG 算法和基于代数运算的ATPG算法[1]。另外为了能够提高ATPG算法的效率，人们将现在正在探索的ATPG问题映射到并行处理机上的方法，并行ATPG技术可分为故障并行、启发式并行、搜索空间并行、功能并行和拓扑并行等多种并行测试生成技术。……