李吉浩，侯其坤，陈传宝，许立讲

(1.南京电子技术研究所， 南京210039； 2.天线与微波技术国防科技重点实验室， 南京210039)

0 引言

在现代化的高科技战争中，能否有效获取信息成为战争的核心和关键，雷达特别是有源相控阵雷达作为获得战争信息的关键传感器，作用和地位举足轻重。目前，有源相控阵雷达除了受低空/超低空飞机、巡航导弹、低空杂波、电子干扰和反辐射武器隐身飞行器等威胁外，还面临电磁脉冲武器等新概念武器的威胁［1］，面临得环境更加复杂，电磁环境不断恶化［2-3］。

作为有源相控阵雷达发射末端和接收前端的核心部件，T/R组件直接暴露在复杂的电磁环境中，相控阵雷达内核的抗烧毁问题主要体现在数目巨大的T/R组件的烧毁问题［4］。因此，有必要通过高功率电磁脉冲试验系统，进行T/R组件的高功率电磁脉冲毁伤效应试验，积累T/R组件的毁伤阈值和加固设计经验，增强该方向的技术基础。

1 高功率电磁脉冲进入T/R组件的途径

电磁脉冲进入T/R组件的途径主要有三种:(1)通过壳体上的孔隙;(2)通过对壳体的穿透;(3)通过暴露在阵面表面上的天线。其中，电磁波对壳体的穿透是通过趋肤效应实现的，2 GHz的微波信号在铜和铝中的趋肤厚度分别为1.52 μm和2.82 μm，频率更高的微波信号趋肤厚度更小。可见，高功率电磁脉冲对壳体的穿透作用很小。

高功率电磁脉冲对T/R组件的毁伤途径主要包括两个方面:一是经过天线耦合后产生感应电流，通过线路或波导结构进入T/R组件;二是通过孔隙耦合进入T/R组件［5］。……