李杨华

【摘要】存储测试技术八十年代中期开始兴起的，建立在超大规模集成电路和计算机技术的基础之上，是与现代科学技术密切联系的现代测试技术。本文根据实际情况，具体分析了利用单片机实现对存储电路的控制。

【关键词】单片机；存储测试技术；存储芯片

1、 引言

近年来，在我国学习和应用单片机的热潮始终不减，特别是MCS-51系列。这是由单片机的特点决定的。实际上，从应用通用数字集成电路系统，到广泛应用单片机，是我国电子设计在智能化应用水平上质的飞跃。据统计分析，单片机的销量到目前为止依然逐年递增，而且在很长一段的时间内，单片机依然会是电子设计的主角。大量的外围芯片和接口电路使得单片机应用系统的设计变得简单而且快捷，新型单片机的上市和高级语言的支持进一步延长了单片机的寿命。且长期稳定的发展和使单片机性价比非常高，而且积累了大量的资料并拥有了大量的工程技术为员。

2、存储测试技术

存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，事后回收记录仪，由计算机处理再现测试信息的一种测试技术。

存儲测试系统一般是把传感器、适配放大器、A/D转换器、控制电路接口电路以及电源集合在一起的微型花测试系统，它具有微小体积、能耐高的冲击加速度、较高的环境压力、微功耗、校准方便、而且不需要引线，在被测物体工作中把信号记录下来，然后回收装置，用计算机读出和数据处理等特点。……