基于可编程逻辑器件的弹载存储测试仪

2012-12-01王永芳范锦彪

探测与控制学报 2012年5期

王永芳，范锦彪，王燕

（1.中北大学电子测试技术国家重点实验室，山西太原 030051；2.仪器科学与动态测试教育部重点实验室，山西太原 030051）

0 引言

弹载存储测试是在被测装置体内置微型存储测试仪，对被测装置无影响或影响在允许范围的条件下，现场实时完成信息采集与存储，事后回收测试，由计算机处理和再现被测信息的一种动态测试技术［1］。

高性能火炮发射时的高膛压、高初速使记录仪中电路模块的抗冲击能力成为测试能否成功的关键，而惯性短时飞行的特点要求信号采样频率高，记录时间短。虽然各种测试装置经过处理后均能满足抗高过载的要求，但是因为单片机容易跑飞［2］，很难实现对被测信号的高速采样与存储；专用集成芯片ASIC功能固定，需添加电路模块，进而会造成硬件体积偏大，增大整个系统的体积［3］。为此，本文提出了基于CPLD的可编程弹载姿态存储测试仪。

1 基于单片机的存储测试仪与CPLD

测试仪的区别主要在于主控芯片实现上的不同，主控芯片的功能是对整个电路的电源管理及电路各个模块的时序控制和与计算机通信模块。主控芯片目前主要有单片机、ASIC和CPLD。但本实验室自主研发的专用集成芯片HB0202，开发周期长，成本高，功能固定，不能更改，应用时经常需要额外增加电路部分，会增加系统体积，并且由于国内制作工艺的问题，有时会出现功能不稳定的情况。基于单片机的存储测试仪的软件流程图如图1所示。